Participants : Chengbin Chu, Jean-Marie Proth, Chengen Wang
L'objectif est ici de minimiser le ``makespan''. Le problème est modélisé à l'aide d'un graphe disjonctif. Un ordonnancement (i.e. un ordre d'entrée des produits dans les machines) étant donné, le ``makespan'' est la longueur d'un chemin critique. L'objectif est de déterminer les arcs disjonctifs qui vont permettre de diminuer la longueur du chemin critique obtenu sans pour autant en faire apparaître un autre. Un premier résultat vient d'être obtenu.