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Participants : Benoît Leblanc, Evelyne Lutton, en collaboration avec Françoise Axel, du Laboratoire de Physique des Solides d'Orsay.
Mots-clés : algorithme génétique, problème inverse
Dans le cadre de l'étude des structures hétérogènes apériodiques multicouches GaAs-AlAs (que l'on peut considérer comme des ``quasi-cristaux'' généralisés), il est intéressant de savoir si l'on peut remonter à la structure multicouche fine de tels matériaux, à partir de la mesure expérimentale de leurs spectres de diffraction X.
L'approche proposée repose sur la connaissance du modèle théorique de formation du spectre de diffraction X (modèle proposé et validé au laboratoire de Physique des Solides d'Orsay), lorsque la composition des couches est connue. La figure 6 montre une courbe d'intensité de diffraction X pour la séquence de Prouhet-Thue-Morse :
où un ``0'' représente une couche GaAs et un ``1'' une couche AlAs.
Figure 6: Spectre de diffraction simulé pour la
séquence de Prouet-Thue-Morse
A l'aide du logiciel ALGON, nous avons pu traiter le problème inverse sur des données simulées et retrouver le codage en couches d'un matériau à partir de son spectre de diffraction, jusqu'à une épaisseur de 128 couches en un temps de calcul raisonnable.
La validation expérimentale se fera en collaboration avec François Laruelle du L2S-CNRS, Jacques Schneck et Laurent Leprince du CNET Bagneux, qui fourniront des mesures spectrales réelles.